高速、高穩定性測量，提高生產量！測量時間：最快0.5ms，測量值偏差0.07%

● 測量頻率：1MHz~1.3GHz

● 測量時間：最快0.5ms（模擬測量時間）

● 測量值偏差：0.07%（測量頻率1GHz時的代表值）

● 基本精度：±0.65% rdg.

● 緊湊主機僅機架一半大小，測試頭僅手掌大小

● 豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）

● 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量

主機不帶測試治具。需要使用阻抗分析儀專用的測試治具。

阻抗分析儀IM7580s：等效電路分析功能

能夠以測量結果為基礎推測5種等效電路模式的常數。 而且，可以通過模擬功能，使用推測結果或者任意的常數來顯示頻率特性的理想值。 此外，使用比較器功能，還能夠確定測量結果是否在判定區域內。

阻抗分析儀IM7580系列：使用SMD治具IM9201進行LCR測量

IM7580系列5種機型的測量頻率覆蓋了1MHz?3GHz。

和用于6種尺寸SMD的測試治具IM9201組合使用，能夠簡單準確的測量樣品。

阻抗分析儀IM7580系列：區域判定功能

分析模式的比較器功能中，可以確定測量值是否進入了任意設置的判定區域內。 “區域判定功能”是設置上限值和下限值的范圍，并以IN/NG來顯示判定結果。

阻抗分析儀IM7580系列：峰值判定功能

分析模式的比較器功能中，可以確定測量值是否進入了任意設置的判定區域內。

“峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值來設置范圍，并以IN/NG來顯示測量的峰值是否在判定區域內。

阻抗分析儀IM7580系列：SPOT判定功能

分析模式的比較器功能中，可以確定測量值是否進入了任意設置的判定區域內。

“SPOT判定功能”是選擇任意的掃描點和參數，最多進行16點的判定。

阻抗分析儀IM7580系列：接觸檢查功能

使用接觸檢查功能，能夠檢查樣品和測量端口的接觸狀態，并確認接觸不良情況和連接狀態。