產品型號:IM7581
產品名稱:IM7581 阻抗分析儀
廠家名稱: 日置產品
其他型號:
最快0.5ms,覆蓋100kHz~300MHz的低頻
● 測量頻率1MHz~300MHz
● 測量時間:最快0.5ms
● 基本精度±0.72%rdg.
● 緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小
● 豐富的接觸檢查功能(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定)
● 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量
主機不帶測試治具。需要使用阻抗分析儀專用的測試治具。
阻抗分析儀IM7580s:等效電路分析功能
能夠以測量結果為基礎推測5種等效電路模式的常數。 而且,可以通過模擬功能,使用推測結果或者任意的常數來顯示頻率特性的理想值。 此外,使用比較器功能,還能夠確定測量結果是否在判定區域內。
阻抗分析儀IM7580系列:使用SMD治具IM9201進行LCR測量
IM7580系列5種機型的測量頻率覆蓋了1MHz?3GHz。
和用于6種尺寸SMD的測試治具IM9201組合使用,能夠簡單準確的測量樣品。
阻抗分析儀IM7580系列:區域判定功能
分析模式的比較器功能中,可以確定測量值是否進入了任意設置的判定區域內。 “區域判定功能”是設置上限值和下限值的范圍,并以IN/NG來顯示判定結果。
阻抗分析儀IM7580系列:峰值判定功能
分析模式的比較器功能中,可以確定測量值是否進入了任意設置的判定區域內。
“峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值來設置范圍,并以IN/NG來顯示測量的峰值是否在判定區域內。
阻抗分析儀IM7580系列:SPOT判定功能
分析模式的比較器功能中,可以確定測量值是否進入了任意設置的判定區域內。
“SPOT判定功能”是選擇任意的掃描點和參數,最多進行16點的判定。
阻抗分析儀IM7580系列:接觸檢查功能
使用接觸檢查功能,能夠檢查樣品和測量端口的接觸狀態,并確認接觸不良情況和連接狀態。